GS150LE 专门适用于低发射率镀膜玻璃生产和加工过程的温度成像及分析系统 GS150LE 温度成像及分析系统基于 GS150 系统之上开发,专为提高低发射率镀膜玻璃的产品质量和产品一致性所设计。
GS150LE 温度成像及分析系统特别增加了发射率自动修正功能。当生产线上玻璃的发射率发生变化时,GS150LE系统可以自动调整到实际的发射率参数,以确保生产过程中的温度精确测量。 GS150LE 帮助用户通过快速检测玻璃表面温度的变化,可以迅速发现产品缺陷和瑕疵,帮助用户提高产品质量,降低废品率。
系统特色: - 可视的热图像和剖面曲线、区域图和剖面热图
- 通过外部触发或软件控制可以“截取”热图像和曲线图
- 各扇区的温度图像和曲线的自动分析(最小值/最大值/平均值等)
- 高低温报警功能
- 当测温过程被启动时,用户可在远程实时进行参数调节,以确保精确的过程控制
- 可将当前曲线与参考曲线进行比较以保证产品一致性
- 提供OPC同其他程序接口,提供模拟或数字量输出
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